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chutes d’anneau attenant
integral test ring offcuts
Y - F00268
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMFxxxxx-17 CONSULTATION POUR ARBRE DE TURBINE BP DMD0246
View
dénombrement des inclusions
inclusion rating
Y - F00268
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMFxxxxx-17 CONSULTATION POUR ARBRE DE TURBINE BP DMD0246
View
aluminisation en phase vapeur
Vapor Phase Aluminizing
Y - F00180
15/03/2017
Général
validé
O
acronyme FR : APVS
acronyme EN : VPA
O
DMF23256-01
View
grappe
cluster
Y - F00180
15/03/2017
Général
validé
O
domaine de la fonderie
O
DMF23256-01
View
radiologie sans film
filmless radiology
Y - F00180
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMF23256-01
View
grain basaltique
columnar grain
Y - F00180
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMF23256-01
View
grain basaltique axial
axial columnar grain
Y - F00180
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMF23256-01
View
grain basaltique transverse
transverse columnar grain
Y - F00180
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMF23256-01
View
secteur chapes
clevis segment
Y - F00310
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMF34014-01
View
méthode par essuyage
wiping method
Y - F00310
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMF34014-01
View
TTh
HT
Y - F00310
15/03/2017
Général
validé
O
TTH = traitement thermique - HT = heat treatment
O
DMF34014-01
View
taux de transfert du matériau abradable
abradable material transfer rate
Y - F00397
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMC0420
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table à mouvements croisé
cross slide table
Y - F00397
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMC0420
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trace lisse
smooth mark
Y - F00397
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMC0420
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trace rainurée
grooved mark
Y - F00397
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMC0420
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trace sillonnée
furrowed mark
Y - F00397
15/03/2017
Général
validé
N
O
DMC0420
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aléas
unusual events
Y - F00387
26/04/2017
Général
validé
O
Eviter "disruptions" et "hazards"
N
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contrainte tangentielle
hoop stress
Y - F00388
15/03/2017
Général
validé
N
O
44929 Design Study issue A
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examen micrographique
micrographic examination
Y - F00387
15/12/2017
Général
validé
N
N
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MEB
SEM
Y - F00015
23/05/2018
Général
validé
O
Microscope Electronique à Balayage = Scanning Electron Microscope
N
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